發(fā)布日期:2019-07-12
如何解決數(shù)粒機(jī)粉塵問(wèn)題實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確計(jì)數(shù)+ 查看更多
如何解決數(shù)粒機(jī)粉塵問(wèn)題實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確計(jì)數(shù)
+ 查看更多
2019-08-08 10:30
光電計(jì)數(shù)傳感器主要應(yīng)用于運(yùn)動(dòng)小物體的計(jì)數(shù), 由于其高速,非接觸測(cè)量, 對(duì)物體下落的位置要求不高等優(yōu)點(diǎn),因而被廣泛用于制藥業(yè)的數(shù)粒機(jī),農(nóng)業(yè)儀器中的種子數(shù)粒機(jī), 包裝業(yè)中的包裝機(jī)等設(shè)備中?,F(xiàn)有的光電數(shù)粒機(jī)一般都能夠滿足藥品生產(chǎn)企業(yè)進(jìn)行藥品包裝的要求。但目前光電行業(yè)中大多數(shù)傳感器存在著以下主要缺陷:
1、小尺寸顆粒的識(shí)別和檢測(cè)問(wèn)題, 對(duì)小于此尺寸的運(yùn)動(dòng)著的顆粒的檢測(cè), 其失效率不能滿足制藥行業(yè)的要求;
2、重疊、破碎的顆粒的識(shí)別:現(xiàn)有光電數(shù)粒機(jī)無(wú)法識(shí)別顆粒缺陷,不能分辨出重疊、破碎的顆粒,易造成誤檢;
3、光電傳感器的響應(yīng)速度需要提高以滿足高速、大批量的裝瓶需求;
4、顆粒數(shù)粒過(guò)程中產(chǎn)生的粉塵影響及振動(dòng)輸送過(guò)程中產(chǎn)生的靜電干擾,降低了光電傳感器的數(shù)粒精度;
5、傳感器的可靠性不高,存在誤數(shù)問(wèn)題。
1、小尺寸顆粒的識(shí)別和檢測(cè)問(wèn)題, 對(duì)小于此尺寸的運(yùn)動(dòng)著的顆粒的檢測(cè), 其失效率不能滿足制藥行業(yè)的要求;
2、重疊、破碎的顆粒的識(shí)別:現(xiàn)有光電數(shù)粒機(jī)無(wú)法識(shí)別顆粒缺陷,不能分辨出重疊、破碎的顆粒,易造成誤檢;
3、光電傳感器的響應(yīng)速度需要提高以滿足高速、大批量的裝瓶需求;
4、顆粒數(shù)粒過(guò)程中產(chǎn)生的粉塵影響及振動(dòng)輸送過(guò)程中產(chǎn)生的靜電干擾,降低了光電傳感器的數(shù)粒精度;
5、傳感器的可靠性不高,存在誤數(shù)問(wèn)題。
IMS 光電數(shù)粒傳感器解決了上述的缺陷不足,主要有以下的優(yōu)點(diǎn):
1、同采用反射式光電傳感器的計(jì)數(shù)器相比,由于對(duì)射型光電傳感器高的信號(hào)/噪聲比, IMS 的光電計(jì)數(shù)傳感器提高了測(cè)量的可靠性;
2、同采用非調(diào)制式對(duì)射型光電傳感陣列相比, IMS 采用高頻調(diào)制抑制了環(huán)境光的干擾,提高了傳感器的信號(hào)/噪聲比,同樣提高了測(cè)量的可靠性;
3、解決了小尺寸顆粒的識(shí)別和檢測(cè)問(wèn)題,可探測(cè)到最小 1mm 的顆粒;
4、可識(shí)別重疊、破碎的顆粒: IMS 體積測(cè)量+數(shù)量統(tǒng)計(jì)系列數(shù)粒傳感器是 3 維(X, Y, Z)的數(shù)粒傳感器: 可對(duì)扁平物體進(jìn)行計(jì)數(shù),同時(shí)測(cè)量物體的截面積,并利用已知或測(cè)量出來(lái)的速度,測(cè)出物體的體積,對(duì)碎粒,重疊的顆粒進(jìn)行判斷;
5、抗粉塵: IMS 數(shù)粒傳感器的每個(gè)光通道都有光量檢測(cè)傳感器,當(dāng)系統(tǒng)受粉塵等因素影響而使接收信號(hào)下降到一定閾值時(shí), IMS 數(shù)粒傳感器會(huì)產(chǎn)生報(bào)警信號(hào),提示用戶系統(tǒng)受到粉塵等因素影響,在傳感器還正常工作的情況下,提前對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行清潔,避免誤數(shù),保證生產(chǎn)的正常高速運(yùn)行;
6、高速微處理器/USB 接口/計(jì)算機(jī)圖像顯示/判斷/控制/數(shù)據(jù)存儲(chǔ)。
閱讀更多文章READ MORE+ 查看更多
閱讀更多文章
READ MORE
+ 查看更多
分享到: